Fragmentométrie

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Dernière modification de cette page le 15 janvier 2016
Anglais : selected ion monitoring (SIM)
Espagnol : monitorización del ión seleccionado
Étymologie : latin fragmentum éclat, fragment, débris, grec μέτρον métron mesure
n. f. Technique de spectrométrie de masse qui a pour objet de détecter les substances intéressantes dont les caractéristiques spectrales de masse sont connues, avec un maximum de sensibilité.


Fragmentométrie SIM (Single ou Selected Ion Monitoring)

Synonyme(s) : Fragmentométrie SIR (Single Ion Recording)
Technique qui consiste à suivre spécifiquement un ion caractéristique d'une molécule (ion parent ou ion fragment) en callant l'analyseur du spectromètre de masse sur le rapport masse/charge de l'ion. Cette spécificité conduit à une diminution du bruit de fond et améliore le rapport signal/bruit, de même que la haute fréquence d'acquisition autorisée par la réduction de la gamme de masse balayée par l'analyseur permet des conditions particulièrement favorables aux applications quantitatives.


Fragmentométrie MRM (Multiple Reactions Monitoring)

Technique qui consiste en une utilisation séquentielle de plusieurs ions caractéristiques d'une ou plusieurs molécules.

Le gain de sensibilité par rapport au cas où l'on s'intéresse à tous les pics peut être très important.

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